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膜厚测试仪
膜厚测试
 实验设备
 品牌： 牛津
 型号： X-Strata920
 设备参数
 可测元素： 22~92号，如Au-Ni-Cu-Sn
 可测层数： 基材+4层电镀层
 精准度： 第一层镀层厚度≦20u” 误差：±0.1
                     ≧20u” 误差：±5%
 第二层镀层厚度误差：±10%
 第三层镀层厚度误差：±15%
 第四层镀层厚度误差：±15%
 实验条件
 升压----预热----波普校准
 温度： 20~80℃
 湿度： 45~75%RH
 判定标准
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